同济大学学报(自然科学版)

2002, (10) 1239-1243

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FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用
Practice on I_(DDT) Test Generation Based on FAN Algorithm

魏小芬,邝继顺

摘要(Abstract):

在不考虑冒险的情况下 ,对于CMOS电路中的开路故障 ,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性 .定义了三种不同的D前沿 ,并将测试产生分为激活故障、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化、减少旁路的影响三个部分 .实验结果说明 ,在不考虑冒险的情况下 ,将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的 .

关键词(KeyWords): CMOS电路;开路故障;测试产生;瞬态电流测试;D前沿

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家自然科学基金资助项目 ( 6 0 1730 42 )

作者(Author): 魏小芬,邝继顺

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