同济大学学报(自然科学版)

2002, (10) 1204-1208

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一款通用CPU的存储器内建自测试设计
Memory Built-in Self-test for General-purposed CPU Chip

何蓉晖,李华伟,李晓维,宫云战

摘要(Abstract):

存储器内建自测试 (memorybuilt-inself-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法 .在一款通用CPU芯片的可测性设计 (design -for-testability ,DFT)中 ,MBIST作为cache和TLB的存储器测试解决方案被采用 ,以简化对布局分散、大小不同的双端口SRAM的测试 .5个独立的BIST控制器在同一外部信号BistMode的控制下并行工作 ,测试结果由扫描链输出 ,使得测试时间和芯片引脚开销都降到最小 .所采用的march 13n算法确保了对固定型故障、跳变故障、地址译码故障和读写电路的开路故障均达到 10 0 %的故障覆盖率 .

关键词(KeyWords): 存储器内建自测试;故障模型;march算法;可测性设计

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家“8 6 3”高技术研究发展计划重点资助项目 ( 2 0 0 1AA11110 0 ) ;; 国家自然科学基金资助项目 ( 6 9976 0 0 2 )

作者(Author): 何蓉晖,李华伟,李晓维,宫云战

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